• Giải quyết các nhiệm vụ kiểm tra đòi hỏi cao, ngay cả ở tốc độ xử lý rất cao
  • Độ phân giải xuất sắc để kiểm tra các khu vực lớn chi tiết nổi bật
  • Dễ vận hành và linh hoạt trong sử dụng
  • Hỗ trợ cổng fieldbus kép và I/O tốc độ cao
  • Hỗ trợ SICK Nova, SICK AppSpace và HALCON