- Giải quyết các nhiệm vụ kiểm tra đòi hỏi cao, ngay cả ở tốc độ xử lý rất cao
- Độ phân giải xuất sắc để kiểm tra các khu vực lớn chi tiết nổi bật
- Dễ vận hành và linh hoạt trong sử dụng
- Hỗ trợ cổng fieldbus kép và I/O tốc độ cao
- Hỗ trợ SICK Nova, SICK AppSpace và HALCON